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簡要描述：渦測厚儀 型號:MHY-16251 儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
產(chǎn)品型號：MHY-16251廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-07-21訪 問 量：561產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
渦測厚儀 型號:MHY-16251
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施現(xiàn)場對產(chǎn)品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦法》。
儀器點
MHY-16251型渦測厚儀的點：
＊量程寬 MHY-16251型的量程達到0～500μm。
＊度 MHY-16251型的測量度達到2%。
＊分辨率 MHY-16251型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在量程范圍內(nèi)保證度。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提 采用集成度、穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性
提。
＊穩(wěn)定性提 采用的溫度補償，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正次可在現(xiàn)場長期使用。
＊探頭線壽命長 采用德口的，在德測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用強度磁芯材料，微調(diào)了探頭，探頭芯壽命可大大延
長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測量范圍： 0～500μm
測量度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
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